光澤和平滑度是物體的表面特征，兩者都取決于物體表面的微觀結構。早在1919年，物理學家Chinmayanandam研究了物體表面鏡面反射光量與表面粗糙度的關系。隨后，許多學者在這方面進行了更廣泛的研究。
他們得出同樣的結論：當波長為時λ光進入射角θ照射物體表面時，滄州歐譜如果用輪廓峰谷高度分布標準差表示物體粗糙度(也稱均方根粗糙度)σ，入射光強度為I，物體表面鏡面反射光強I′可以下式得到：
I′=Iexp[-(4πσ·cosσ/λ)]
Cate其他人研究了紙張光澤與均方根粗糙度的關系，并指出了外觀輪廓法和光學法測量的平均粗糙度σ2與TAPPI光澤之間有很好的相關性(相關系數為0.91)，σ2值越大(即表面粗糙度越大)，TAPPI光澤度越小，其他方法測量平滑度時，測量值與光澤之間的相關性很差，因為它們都是在一定的壓力下測量的。表4-6是三菱造紙有限公司桂撤的相關研究結果。表中值為75°角度測量光澤值與幾種平滑度測量方法測量值之間的相關系數。從表面上可以看出，它們之間的相關性很差。這反映了光澤僅與物體表面的表觀平滑度有關，光澤度計與壓力下測量的平滑度無關。
